![MQL5 - Язык торговых стратегий для клиентского терминала MetaTrader 5](https://c.mql5.com/i/registerlandings/logo-2.png)
Вы упускаете торговые возможности:
- Бесплатные приложения для трейдинга
- 8 000+ сигналов для копирования
- Экономические новости для анализа финансовых рынков
Регистрация
Вход
Вы принимаете политику сайта и условия использования
Если у вас нет учетной записи, зарегистрируйтесь
Лекция 9: Форма из затенения, общий случай - переход от нелинейного уравнения первого порядка в частных производных к пяти обыкновенным дифференциальным уравнениям
Лекция 9: Форма из затенения, общий случай - переход от нелинейного уравнения первого порядка в частных производных к пяти обыкновенным дифференциальным уравнениям
Эта лекция посвящена теме формы от затенения, методу интерпретации форм объектов с использованием изменений яркости изображения. Лектор объясняет процесс сканирующей электронной микроскопии, в котором коллектор вторичных электронов используется для измерения доли входящего электронного луча, который возвращается обратно, что позволяет оценить наклон поверхности. В лекции также обсуждается использование контурных интегралов, моментов и метода наименьших квадратов для оценки поверхностных производных и нахождения наименьшей поверхности с учетом шума измерения. Докладчик выводит пять обыкновенных дифференциальных уравнений для формы из задачи затенения, а также объясняет концепцию оператора Лапласа, который используется в операциях обработки изображений.
В этой лекции на тему «Форма из затенения» спикер обсуждает различные подходы к решению уравнений для решения методом наименьших квадратов формы из затенения. Лектор объясняет различные методы выполнения условия Лапласа, настройки значений пикселей и реконструкции поверхностей с использованием измерений изображений и вычислений наклона из разных точек. Лекция охватывает темы начальных значений, преобразования вращения и обратного преобразования через минус тета. Лектор завершает обсуждением обобщения этих уравнений для произвольных карт отражения и важности изучения изображений, полученных с помощью сканирующего электронного микроскопа, для предоставления конкретных примеров интерпретации затенения.
Лекция 10: Расширение характеристической полосы, форма от затенения, итерационные решения
Лекция 10: Расширение характеристической полосы, форма от затенения, итерационные решения
В этой лекции инструктор раскрывает тему формы от затенения, используя измерения яркости в концепции формирования изображения. Это включает в себя понимание уравнения освещенности изображения, которое связывает яркость с ориентацией поверхности, освещением, материалом поверхности и геометрией. Они объясняют метод обновления переменных p и q, используя две отдельные системы уравнений, которые взаимодействуют друг с другом, и отслеживая всю полосу с использованием градиента яркости. В лекции также обсуждаются проблемы решения нелинейных уравнений в частных производных первого порядка и различные методы перехода от одного контура к другому при исследовании поверхности. Наконец, инструктор обсуждает реализацию расширения характеристической полосы и почему последовательный подход может быть не лучшим методом, рекомендуя распараллеливание и контроль размера шага.
В лекции 10 профессор обсуждает различные методы решения задач определения формы из затенения, в том числе использование стационарных точек на поверхности и построение небольшой формы вокруг нее для оценки локальной формы. Лектор также вводит понятие закрывающей границы, которая может обеспечить начальные условия для решений, и обсуждает недавний прогресс в вычислении решений для задачи трех тел с использованием сложных методов численного анализа. Кроме того, лекция затрагивает тему методов промышленного машинного зрения и связанных с ними закономерностей, которые будут обсуждаться в следующей лекции.
Лекция 11: Обнаружение краев, положение субпикселя, CORDIC, обнаружение линий (Патент США 6408109)
Лекция 11: Обнаружение краев, положение субпикселя, CORDIC, обнаружение линий (Патент США № 6408109)
Это видео на YouTube под названием «Лекция 11: Обнаружение краев, положение субпикселя, CORDIC, обнаружение линий (6 408 109 США)» охватывает несколько тем, связанных с обнаружением краев и расположением субпикселей в системах машинного зрения. Спикер объясняет важность патентов в процессе изобретения и то, как они используются в патентных войнах. Они также обсуждают различные операторы обнаружения границ, их преимущества и ограничения. Видео включает подробные объяснения математических формул, используемых для преобразования декартовых координат в полярные координаты и определения положения ребра. Видео завершается обсуждением важности составления общих и узких формулировок патентов и эволюции патентного права с течением времени.
В лекции 11 докладчик сосредоточится на различных вычислительных молекулах для обнаружения границ и оценки производных, уделяя особое внимание эффективности. Представлены операторы Собеля и Робертса-Кросса для вычисления суммы квадратов градиентов с обсуждением вариаций формулы и техники. Для достижения субпиксельной точности используются несколько операторов, и для определения пика кривой представлены такие методы, как подбор параболы или использование модели треугольника. Кроме того, в лекции обсуждаются альтернативы квантованию и вопросы с направлением градиента на квадратной сетке. В целом, в лекции подчеркивается важность рассмотрения многих деталей для достижения хорошей производительности при обнаружении границ.
Лекция 12: Анализ двоичных объектов, обработка двоичных изображений, теорема Грина, производная и интеграл
Лекция 12: Анализ двоичных объектов, обработка двоичных изображений, теорема Грина, производная и интеграл
В этой лекции профессор охватывает ряд тем, включая интеллектуальную собственность, патенты, товарные знаки и методы обработки изображений для обнаружения границ. В лекции подчеркивается важность точности в двухмерном машинном зрении и проблемы обнаружения нечетких или расфокусированных краев. Профессор рассказывает о методах нахождения смешанных частных производных, лапласианах и обнаружении границ с помощью субпиксельной интерполяции, а также о методах компенсации смещения и корректирующей калибровки при поиске пиков. В целом, лекция представляет собой всесторонний обзор этих тем и их практического применения.
В этой лекции по обработке изображений спикер обсуждает различные методы, позволяющие избежать квантования направлений градиента и повысить точность определения положения края. Интерполяция предлагается в качестве предпочтительного метода по сравнению с интерполяционными таблицами и квантованием для более точного определения направления градиента. Кроме того, в качестве альтернативных методов расчета градиента обсуждаются фиксация размера шага с помощью круга и использование многомасштабного анализа. Докладчик также объясняет итеративный подход к вращению изображения для уменьшения y-компоненты градиента до нуля и вводит понятие хорды для поворота на специальные углы. Учащимся напоминают о том, что нужно начинать с викторины заранее, так как это больше работы, чем обычное домашнее задание.
MIT 6.801 Machine Vision, осень 2020 г. Лекция 13: Обнаружение объектов, распознавание и определение позы, PatQuick (патент США 7016539)
Лекция 13: Обнаружение объектов, распознавание и определение позы, PatQuick (патент США 7016539)
Лекция посвящена обнаружению объектов, распознаванию и определению позы с упором на патент PatQuick (7 016 539 США). Патент направлен на обнаружение и определение положения объектов в пространстве и предлагает улучшение по сравнению с предыдущими методами, используя абстрактное представление, называемое моделью, которая сравнивается с изображением во время выполнения в различных позах и поворотах. Патент также включает список обобщенных степеней свободы для повышения точности и использует фильтрацию нижних частот и обнаружение краев для получения граничных точек, откладывая пороговое значение до последних этапов. Кроме того, в лекции обсуждается процесс создания моделей с использованием обнаружения краев и датчиков с желаемым интервалом и контрастом для представления этих моделей, а также объясняется важность учета степеней свободы, таких как смещение, вращение, масштабирование и соотношение сторон, которые допускают вариации в размеры и перспективы объекта.
В видео обсуждаются шестиугольные шаблоны поиска, используемые для эффективного и масштабируемого поступательного поиска при обнаружении объектов, включая обнаружение пиков и решение для обнаружения соседних объектов. В видео также обсуждается PatQuick, патент на определение наличия предопределенных шаблонов в изображениях во время выполнения и их многомерное расположение. В методе используются датчики и предварительно вычисленный градиент для соответствия положению объекта, а интеграция функции оценки устраняет ошибки из результата. В видео рассматривается альтернативный метод определения разницы углов с помощью скалярных произведений, а также подчеркивается сложность многомасштабных операций и выбор датчика для различной степени детализации. Точность метода ограничена квантованием пространства поиска.
Лекция 15: Выравнивание, PatMax, поле расстояний, фильтрация и субдискретизация (патент США 7065262)
Лекция 15: Выравнивание, PatMax, поле расстояний, фильтрация и субдискретизация (патент США 7065262)
В видео обсуждаются несколько методов и патентов, связанных с распознаванием образов и обнаружением объектов. Одним из таких методов является PatMax, который итеративно улучшает позу изображения во время выполнения, используя систему, основанную на силе притяжения. Другой метод включает создание векторного поля на пиксельной сетке для улучшения выравнивания изображения во время выполнения. В лекции также рассматривается использование полей расстояний для обнаружения краев и расширения засеянных краев путем изучения векторов силы в векторном поле. Докладчик также обсуждает использование многомасштабного сопоставления с образцом и математические шаги, связанные с подгонкой линий к наборам координат изображения. Наконец, вводится патент на эффективное вычисление нескольких масштабов.
В лекции 15 лектор рассказывает о различных методах и сочетаниях клавиш для эффективной свертки, фильтрации и субдискретизации изображений. К ним относятся аппроксимация ядер фильтров с помощью сплайновых кусочных полиномов, использование производных в качестве сверток, сжатие изображений путем многократного взятия третьей разности и объединение сверток в направлении x и y. Докладчик также упоминает о важности фильтрации нижних частот перед дискретизацией изображения, чтобы избежать интерференции и наложения изображений.
Лекция 14: Проверка в PatQuick, преобразование Хафа, гомография, определение положения, мультимасштаб
Лекция 14: Проверка в PatQuick, преобразование Хафа, гомография, определение положения, мультимасштаб
В этой лекции обсуждается алгоритм PatQuick с акцентом на использование зондов для создания оценочной функции в многомерном пространстве, которая определяет положение объекта на изображениях в реальном времени. Также исследуется функция сопоставления, используемая для оценки качества совпадения с точки зрения направления и величины градиента, при этом обсуждаются различные функции оценки для компромиссов между точностью и скоростью. В лекции также рассматриваются различные методы, используемые для повышения эффективности процесса сопоставления с образцом, в том числе настройка детализации вычислений и решение проблемы правильного определения направлений, особенно при выполнении преобразований, которые изменяют соотношение сторон изображения. Лекция также затрагивает тему гомографии и преобразования Хафа для обнаружения линий на фотографиях.
Лекция охватывает ряд тем, связанных с компьютерным зрением, включая преобразование Хафа, расширенное полупреобразование Гаусса, определение положения, многомасштабную подвыборку и SIFT. Преобразование Хафа используется для обнаружения линий и краев, а расширенное полупреобразование Гаусса является более сложной версией преобразования Хафа. В лекции также объясняется, как использовать преобразование Хафа для обнаружения окружностей, например местоположения вышки сотовой связи. Кроме того, спикер обсуждает субдискретизацию изображений для уменьшения рабочей нагрузки без ущерба для качества и представляет SIFT — метод поиска соответствующих точек на разных изображениях сцены, который широко используется при создании трехмерной информации из нескольких изображений. Наконец, спикер кратко обсуждает теорию музыки и заканчивается напоминанием о подаче предложений и цитатой о том, что нельзя откладывать.
Лекция 16: Быстрая свертка, аппроксимация фильтра нижних частот, интегральные изображения (патент США 6457032)
Лекция 16: Быстрая свертка, аппроксимация фильтра нижних частот, интегральные изображения (патент США 6457032)
Лекция охватывает различные темы, связанные с обработкой сигналов, включая ограничение полосы пропускания, алиасинг, аппроксимацию фильтра нижних частот, размытие, интегральное изображение, анализ Фурье и свертки. Докладчик подчеркивает важность низкочастотной фильтрации сигналов перед дискретизацией, чтобы избежать артефактов наложения. Лекция также знакомит с идеей интегрального изображения, которое эффективно вычисляет сумму пикселей внутри блока, и различными методами сокращения вычислений при аппроксимации фильтров нижних частот. Наконец, в лекции обсуждается бикубическая интерполяция, которая используется для аппроксимации функции sinc, и связанные с ней вычислительные затраты.
В этой лекции докладчик обсуждает различные темы, связанные со сверткой, аппроксимацией фильтра нижних частот и интегральными изображениями. Они объясняют различные реализации свертки, в том числе метод, который экономит время вычислений, добавляя значения слева направо и вычитая, чтобы получить среднее значение. Также обсуждаются ограничения линейной интерполяции для аппроксимации фильтра нижних частот и ее недостатки по сравнению с более продвинутыми методами, такими как кубическая интерполяция. Вводится понятие дота и его значение в ограничении частотных диапазонов, а спикер рассказывает об идеальном ФНЧ и о том, как расфокусировка влияет на функцию Бесселя. Лекция также затрагивает использование аппроксимаций фильтра нижних частот для объективов цифровых зеркальных камер и концепцию фотограмметрии.
Лекция 17: Фотограмметрия, Ориентация, Оси инерции, Симметрия, Ориентация
Лекция 17: Фотограмметрия, Ориентация, Оси инерции, Симметрия, Ориентация
Эта лекция охватывает различные темы, связанные с фотограмметрией, включая сигналы глубины, калибровку камеры и установление преобразования между двумя системами координат. Докладчик объясняет, как подойти к проблеме нахождения преобразования координат между двумя системами, используя соответствующие измерения, и подчеркивает важность проверки точного обратного преобразования. В лекции также обсуждается нахождение осей инерции в 2D и 3D пространстве и определение расстояния между двумя точками, спроецированными на ось. В целом, в этом разделе представлен всесторонний обзор фотограмметрии и ее приложений.
Фотограмметрия требует построения системы координат на облаке точек в левой и правой системах координат и их связывания. Лектор объясняет, как определить матрицу инерции или оси инерции и установить базисные векторы. Они также обсуждают проблемы, связанные с симметричными объектами, и свойства вращения, такие как сохранение скалярных произведений, длин и углов. Кроме того, в лекции рассказывается, как упростить задачу поиска поворота, устранив трансляцию и минимизировав погрешность. Наконец, лектор объясняет, как совместить два объекта одинаковой формы с помощью векторного исчисления, и предлагает изучить другие представления для вращения.
Лекция 18: Вращение и как его представить, единичные кватернионы, пространство вращений
Лекция 18: Вращение и как его представить, единичные кватернионы, пространство вращений
В этой лекции обсуждаются проблемы представления вращений и рассказывается о полезности кватернионов Гамильтона. Единичные кватернионы особенно полезны, поскольку они напрямую отображаются на вращения в трехмерном пространстве, что позволяет обсуждать пространство вращения и оптимизацию в этом пространстве. Кватернионы обладают свойствами, подобными комплексным числам, и особенно полезны для представления вращений, поскольку они сохраняют скалярные произведения, тройные произведения, длину, углы и хиральность. В лекции также обсуждаются различные методы представления вращения, важность возможности вращения векторов и составления вращений, а также ограничения традиционных методов, таких как матрицы, углы Эйлера и шарнирный замок. Наконец, в лекции представлены текущие исследования в этой области, в том числе оптимизация и подгонка вращений к моделям, а также разработка новых методов анализа и визуализации пространств вращений.
В этой лекции профессор обсуждает проблему нахождения преобразования координат между двумя системами координат или наилучшего соответствия вращения и перемещения между двумя объектами с соответствующими точками, измеренными в двух системах координат. В лекции рассматривается использование кватернионов для совмещения камер космического корабля с направлениями каталога и решения проблемы относительной ориентации. Обсуждается эффективность кватернионов в представлении вращений, а также различные методы приближения к представлению вращений в четырехмерном пространстве. Кроме того, в лекции исследуются различные группы вращения для разных многогранников, подчеркивая важность выбора правильной системы координат для достижения регулярной выборки пространства.